隨著納米領域的不斷發展，納米顆粒在光學、電學、生物、環境等科研項目中備受關註。氣溶膠粒子的差分電遷移率分級與分析，被應用於環境監測領域納米到微米的氣溶膠粒子測量中，基於其簡單的物理原理，而成為氣溶膠領域的重要組成部分，如氣溶膠儀器、基於氣溶膠的材料生產、半導體工業汙染控製、大氣氣溶膠、工程化納米粒子表征等。同時，帶電粒子的電遷移率分級可生成粒徑可知的單分散粒子，以用於校準其他儀器。
近日，Palas® SMPS 掃描電遷移率粒徑譜儀通過了中國計量科學研究院的檢測認定，並獲得了其頒發的校準證書。早前，SMPS在歐洲氣溶膠校準表征中心（ECAC）檢測機構TROPOS的測試結果同樣顯示了優異的臺間差/平行性數據。該實驗室的結果再次證明Palas®掃描電遷移率粒徑譜儀的準確和可靠性。
定徑和計數準確
此次中國計量科學研究院的校準參照JJF 1864-2020氣溶膠粒徑譜儀校準規定，分別從粒徑測量示值誤差、顆粒技術效率和計數重復性多個校準項目進行檢測。以測量粒徑測量示值誤差為例：SMPS 的標準值為72.1nm，所測量到的值是74.989nm，示值誤差在4.0%。顆粒計數效率方面：SMPS 的標準值為1014個/cm3，所測量到的值是1010個/cm3，計數效率為99.6%。如下圖所示，中國計量院校準結果報告證明了Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀的兩個特點：1.定徑準確；2.計數準確。
優異的臺間差/平行性
早前，SMPS在歐洲氣溶膠校準表征中心（ECAC）檢測機構TROPOS的測試結果同樣顯示了良好的臺間差/平行性數據。如下圖所示，帕剌斯送檢的10套儀器線性均<±5%，完全符合且優於CEN/TS 16976標準。Palas®能夠為客戶提供規範、穩定、優良的服務，為科研和質量控製等領域提供保障。
符合規範的儀器品牌
Palas®產品可滿足JJF 1562—2016《凝結核粒子計數器校準規範》、JJF 1800—2020《氣溶膠光度計校準規範》、ISO 15900:2009《 氣溶膠顆粒粒徑分布的測量差分電遷移法》，JF 1864-2020《氣溶膠粒徑譜儀校準規範》等相關規範要求來協助計量檢測專家完成顆粒物檢測設備的校準。Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀已被計量院用於呼吸防護過濾效率測試儀的校準和測試等，為各種檢測校準任務提供技術支持。
SMPS 掃描電遷移率粒徑譜儀
Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀，采用納米顆粒測量系統，可測量4nm到1200nm的氣溶膠粒徑分布，可以提供穩定的粒徑分析和計數功能的同時，原始通道高達256個，能夠實現高粒徑分辨率。SMPS全系列多組合符合不同濃度、粒徑分布範圍的氣溶膠分析需求，優點多多。例如，它可靈活搭載預處理裝置（如稀釋裝置等），且其操作界面為桌面式設計，簡便易學。憑借其開放式數據文件，可讀取和分析數據，實現自檢測和校準。此外，它具備的靈活性和兼容性，可以與市場主流計數器兼容。
產品優勢
· 粒徑分布從4nm到1,200nm
· 連續和快速掃描測量原理
· 高分辨率，多达256通道（128通道/十倍粒徑）
· 適用於高達108 顆粒/cm3的濃度
· 可連接其他製造商的DMA和納米粒子計數器
· 圖形顯示測量值
· 直觀操作，使用7英寸觸摸屏和GUI
· 集成數據記錄儀
· 支持多種接口和遠程訪問
· 低維護
· 功能可靠
· 減少您的運營費用
應用領域
· 過濾測試
· 氣溶膠研究
· 環境與氣候研究
· 吸入實驗
· 室內和工作場所測量
Palas®將定期安排針對環境空氣顆粒物連續自動監測系統、SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀、Promo®氣溶膠粒徑譜儀、氣溶膠發生器和稀釋系統，以及ISO 16890濾材過濾性能測試臺MFP 3000 G、ISO 29463-3 HEPA/ULPA濾材過濾性能測試臺MFP Nano plus 4000、ISO 17536油霧分離器過濾性能測試臺HMT 1000等氣溶膠測量解決方案的在線中英文網絡研討會。歡迎您註冊參會，盡快獲悉在線研討會信息！
主題： Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀
時間：2022年11月18日，周五 15: 00 – 16: 00
主講人：鄧珺 女士
Palas®中國環境和汽車業務拓展經理
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