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納米粒子測量

首頁 納米粒子測量

環境和技術應用中≥2nm超細氣溶膠數濃度和粒徑分布的測量

適用於各種應用(8–1200 nm)的通用掃描流動性粒度儀

 


 

U-SMPS 2050/2100/2200

通用掃描遷移率粒度儀,集成X射線電離,適用於8 – 1200 nm的各種應用

 


 

U-SMPS 2050 X / 2100 X / 2200 X

通用掃描遷移率粒度儀,適合2-400 nm的高濃度應用

 


 

U-SMPS 1700

通用掃描遷移率粒度儀,集成X射線電離,適用於4 – 600 nm的高濃度測量

 


 

U-SMPS 1700 X

納米粒子計數器,可配合Nafion®氣溶膠幹燥器(可選)進行環境空氣監測,具有高流量,可測量濃度高達2•106粒子/立方厘米(單計數模式)

 


 

ENVI-CPC 200